29 февраля – 2 марта 2024 года на базе НИУ «МЭИ» при поддержке Центра компетенций НТИ МЭИ состоялась XXIX Международная научно-техническая конференция студентов и аспирантов «Радиоэлектроника, электротехника и энергетика» и 6th 2024 International Youth Conference on Radio Electronics, Electrical and Power Engineering.
Конференция проводится с 1994 года и за эти годы стала одним из крупнейших в России профессиональных образовательных мероприятий. Цель проведения конференции — развитие творческой активности студентов, аспирантов и молодых ученых, привлечение их к решению актуальных задач современной науки, сохранение и развитие единого научно-образовательного пространства, установление контактов между будущими коллегами.
В этом году работа конференции организована по 65 направлениям, а само мероприятие проводится одновременно на трех площадках: в Москве (в НИУ «МЭИ»), в Египте и в ОАЭ. Участниками конференции стали более 1 300 студентов и аспирантов (в том числе около 300 участников из 74 зарубежных вузов).
Четыре доклада сотрудников Центра заняли призовые места:
Диплом I степени – «Разработка решений для автоматического расчёта параметров срабатывания релейной защиты распределительной сети», Д.А. Вертогузов, В.Ф. Лачугин.
Диплом I степени – «Дифференциально-фазная отстройка от насыщения ТТ с замкнутым магнитопроводом», А.П. Агапкин, М.В. Бирюкова, Е.А. Петрова, Д.С. Рыбин, Е.Н. Колобродов.
Диплом I степени – «Определение индекса технического состояния высоковольтного выключателя по ограниченному набору данных», А.С. Сорокин, А.И. Коваленко, А.А. Лебедев.
Диплом II степени – «Определение витковых замыканий в обмотке статора генератора», Д.В. Кукис, И.С. Резников, А.М. Балабанов, Я.Е. Тепикин, Т.Г. Климова
О конференции:
Тезисы докладов конференции публикуются в электронном виде (на CD) с присвоением ISBN и регистрацией издания в Книжной палате и размещаются в системе РИНЦ.
В разделе IEEE конференция поддерживается сообществом Industry Applications Society (IAS), что позволяет докладам, поступившим и успешно прошедшим рецензирование в данном разделе, опубликоваться в IEEE Xplore Digital Library с индексацией в Scopus.
